Caracterización Nanotecnológica de Superficies

El AFM Multimode permite obtener imágenes topográficas tridimensionales y medir propiedades físico-químicas a escala nanométrica y atómica. A diferencia de otros microscopios, este instrumento detecta fuerzas de interacción atómica (Van der Waals, magnéticas, eléctricas) mediante el escaneo de una punta ultradelgada sobre la superficie.

Su versatilidad multimodal incluye el modo contacto para superficies duras, PeakForce Tapping para muestras biológicas delicadas y modos avanzados como PeakForce QNM para mapeo de propiedades mecánicas cuantitativas, convirtiéndolo en una herramienta vital para la ciencia de materiales, polímeros y biofarmacéutica.

Protocolos y Preparación de Muestras

Para garantizar la calidad de los datos y proteger las costosas puntas de escaneo, las muestras deben ser sólidas, estables y razonablemente planas (rugosidad < 5 µm). Es indispensable consultar la disponibilidad en el calendario adjunto y completar el formulario de colaboración especificando el modo de operación (aire o líquido) y los riesgos potenciales de la muestra. Ofrecemos capacitación para la configuración del software y el montaje adecuado de muestras en este sofisticado sistema de medición.