Microscopio de Barrido Electrónico JSM-IT500
Conferencia: Preparación de Muestras de Alta Precisión para Microscopía
Te invitamos a participar en la Conferencia de Preparación de Muestras de Alta Precisión para Microscopía, programada para llevarse a cabo el jueves 3 de diciembre de 2026. Este espacio académico está enfocado en los flujos de trabajo de preparación de muestras de RMC Boeckeler, abarcando consideraciones prácticas para muestras biológicas y de ciencia de materiales.
• Realiza tu inscripción oficial a través del formulario de registro en línea (o escanea el código QR).
• Cupo limitado. ¡Esperamos darle la bienvenida para un día de aprendizaje, discusión y experiencia directa!
Microscopio Electrónico de Barrido JSM-IT500
Caracterización Microestructural y Elemental
El JSM-IT500 es un equipo de imagen avanzado que utiliza un haz de electrones enfocado para caracterizar la morfología superficial, topografía y composición elemental de muestras sólidas. Permite generar imágenes de alta resolución mediante electrones secundarios (SE) y retrodispersados (BSE) con un rango de magnificación desde 5X hasta 300,000X.
Destaca por su sistema EDS (Espectroscopía de Dispersión de Energía) integrado y el "Live Analysis Mode", que superpone el espectro químico en tiempo real durante la observación. Con voltajes de aceleración de 0.3 kV a 30 kV y modos de vacío adaptable, es ideal para el análisis de materiales conductores, no conductores y muestras sensibles.
Procedimiento de Uso
Para utilizar el equipo, verifique la disponibilidad en el calendario inferior. Las muestras deben estar completamente secas, ser conductoras (o recubiertas con oro/carbono) y montarse en stubs compatibles. Es obligatorio completar el formulario de colaboración detallando el objetivo del análisis y los riesgos potenciales antes de la sesión. Ofrecemos capacitación para usuarios que requieran operar el software de análisis EDS cuantitativo de manera independiente.
Calendario de Disponibilidad
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