Microscopio de Barrido Electrónico JSM-IT500

Correo: esteban.bermudezurena@ucr.ac.cr

JSM-IT500 JEOL

El microscopio electrónico de barrido enfoca un haz de electrones sobre la superficie de una muestra para crear una imagen de barrido. Los electrones del haz interactúan con la muestra y producen diferentes señales que pueden ser detectadas por el instrumento para obtener información acerca de la composición o topografía del espécimen.

Características:

La imagen del CCD: permite ubicar el área de la muestra o especificar las posiciones de análisis."Live Analysis Mode", el sistema EDS integrado muestra un espectro EDS en tiempo real durante la observación de imágenes. La composición elemental o "Alerta" para el elemento de interés se muestra en una imagen en vivo.SOFTWARE: permite seleccionar y revisar imágenes SEM y resultados de análisis a través del área de administración de datos. También puede generar un informe.MAGNIFICACION: 5X  hasta  300,000 XFUENTE DE ELECTRONES: Termico (Tungsteno)VOLTAJES DE ACELERACION: 0,3 kV hasta 30 kVMODOS DE VACIO: Bajo (10 to 650Pa)-AltoMODOS DE EDS: Analisis espectral, analisis qualitatiovs y cuantitativos, analisis a tiempo real ( linea horizontal/arbitraria), mapeo elemental, Punto, etc.MEDICION: Distancia entre puntos, distancia entre lineas paralelas, angulo, diametro, etcMODOS DE IMAGEN: Electrones secundarios (SE), electrones electrodispersados (BSE) y composición