Difractómetro de Rayos X EMPYREAN

Difractómetro de Rayos X EMPYREAN

Caracterización Estructural de Materiales

El Difractómetro de Rayos X Empyrean es un equipo analítico de alta gama utilizado para la caracterización estructural de materiales mediante la técnica de Difracción de Rayos X (DRX). Su funcionamiento se basa en dirigir un haz de rayos X monocromático hacia una muestra, produciendo un patrón único que actúa como una "huella dactilar" cristalina.

Este equipo permite realizar análisis de fases, determinar estructuras cristalinas, medir tamaño de cristalita y tensión residual, estudiar texturas y caracterizar películas delgadas mediante Reflectometría (XRR), gracias a su configuración flexible y software especializado.

Procedimiento de Uso

Para garantizar la seguridad y eficiencia, los usuarios deben verificar la disponibilidad en el calendario adjunto (no requiere reserva de slot, solo confirmación de espacio libre). Es obligatorio completar el formulario de colaboración correspondiente antes de la sesión para declarar el estado de la muestra y los protocolos de seguridad. Si es su primera vez operando el equipo, contamos con opciones de capacitación especializada.

Calendario de Disponibilidad

Galería

Image
Difractómetro de rayos X

Empyrean Malvern-PanAlytical

Image
Equipo GiSAX

Empyrean Malvern-PanAlytical

Image
Rayos x