Difractómetro de Rayos X EMPYREAN

El difractómetro de rayos X permite el análisis de las fases de los materiales, análisis de textura, esfuerzos residuales en piezas, cámaras de reactores de gases e incluso tomografía para obtener modelos en 3D. El sistema con el que cuenta el CICIMA es de última generación con una gran cantidad de aplicaciones.

Modos de operación:

• Difracción de Rayos X
• Reflectividad.
• Esfuerzos y Textura.
• Medidas en ambientes controlados.
• Mapeo del Espacio Recíproco
• Microdifracción
• Tomografía
• SAXS/WAXS
• GISAXS
• Pair distribution function (PDF)

Aplicaciones en campos de estudio

La Ciencia de los Materiales, Farmaceútico, Geociencia, Arqueología, Polímeros, Películas Delgadas y Recubrimientos, Semiconductores y Fotovoltaico, Odontología y Química.

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